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易被遗忘的晶振外壳其重要性更会影响晶振性能

浏览次数: 日期:2014年3月11日 17:05

  晶体振荡器作为基准时钟源被广泛用于各种模拟和数字电路中,通常我们知道影响晶振性能因素,工作环境是主要的,松季电子告诉我们其次还有一个因素(PS:同时也是容易被遗忘的),那就是晶振外壳。

  晶振质量的好坏直接影响到电路工作状况,而晶振外壳品质更是影响晶振性能的主要因素之一。晶振外壳采用冲床连续冲压成型,经大量观察和分析发现,主要缺陷有内底面与顶面的凹坑、内底面与顶面的划痕,侧面裂口和侧面挠曲。侧面挠曲严重同样可以影响晶振的质量,是指外壳主要侧面不平行。理论上这种侧面的挠曲缺陷使得本来与光源平行的内侧面发生小角度倾斜,其在图像上的突出表现是晶振外壳凸缘内侧边缘变粗和不平行。

  晶振外壳质量对晶振的性能有较大的影响。针对工业现场中晶振外壳挠曲缺陷的特点,我们可以检测晶振外壳内侧边缘间的距离。

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