您现在的位置:新闻资讯 >> 公司新闻 >> 直接阻抗法如何有效测量晶振负载谐振频率
  • 关 键 字:
  •  

直接阻抗法如何有效测量晶振负载谐振频率

浏览次数: 日期:2013年11月22日 11:00

 

  测量晶振的负载谐振频率的方法有很多,其中必须要提到的是直接阻抗法,今天松季电子特别为大家介绍直接阻抗法和直接阻抗法如何有效测量晶振负载谐振频率。

  在晶振参数测量中,由于Fs和Fr阻抗相对较低,按IEC444和EIA512进行Fs/Fr测量没有什么困难,问题主要在于负载谐振频率(FL)的测量,特别是负载电容(CL)很低的时候。

  直接阻抗法是使用网络分析仪,比物理负载电容法等其它方法更加准确、方便并且成本更低。

  从电路应用的观点看,如果要求加上指定负载电容后达到负载谐振频率,意味着晶振必须在规定的负载谐振频率处表现为一个电感,即被测器件阻抗=-负载电容阻抗。

  这是一个基本要求,只要有可能晶振应在完全符合这一要求的条件下进行测试,而不应有任何估计,直接阻抗方法就是基于这一基本原则。

  这种方法的主要优点是在最终使用的负载电容条件下测量晶振,没有太多估计,因此就算晶振是非线性也不会有什么问题。

  另外即使不知道负载电容也不必校正CX和CY(或者LX、LY等),它能够保证精度和再现性,不仅仅只是可重复性。

  使用直接阻抗法时,还需要考虑其他一些因素,包括:

  1、软件校正和寄生分量补偿

  IEC444标准不要求用软件技术进行明确的寄生分量补偿和校正,而是更依赖于完好的测试前端。因为没有适当软件补偿,IEC444标准只能用理想测试前端在低阻抗处进行测量,但这样一个具有最小寄生分量的测试前端在大批量生产中是不切实际的,这就是为什么大多数实际测量系统在一定程度上都使用了软件技术补偿寄生电抗分量。

  直接阻抗测量法需要更全面的π型前端模型和大量数学计算,幸好如今的计算机/网络分析仪的速度和成本能使这一要求得以实现。必须正确使用这种方法,否则系统将无法在测量高阻抗时得到良好的重复性、再现性和精度。

  2、驱动电平

  在测量负载谐振频率时,直接阻抗法所需电压幅值要比用同样硬件设置的其它方法大得多。好在测量Fr/Fs时也可以获得同样的驱动电平,因此驱动电平相关性和寄生比率测试能够非常精确,为质量差的晶振提供了安全防护。此外加上一个商用功率放大器后(成本在几百美元到上千美元之间),该方法的实用驱动电平在CL=20pF、20MHz条件下可高达400mW以上。

  无源测量驱动电平的精度(IEC444和EIA512标准)一直有着一个问题,即在通常一秒钟测试时间中,大多数迭代搜索并没有将目标驱动功率加在被测器件上,而是直到测最后几个读数时才可能施加目标驱动功率,但这些读数只有几毫秒或几分之一毫秒的时间。

  总的来说,负载谐振频率的测量精度是另晶振业界很头疼的事情。松季电子温馨提示:应该记住直接测量法还能提供精确的Fs、Fr、Co和ESR,这意味着在一次通过测试中我们可测试所有晶振参数,包括DLD、寄生模式、Q值等,无需再插入或改变任何负载电容。应用该方法的设备市面上已经出现,这类设备能够提供所有晶振参数的精确测量值,非常便于用户使用,并且成本也很低。

所属类别: 公司新闻

该资讯的关键词为:晶振  测量晶振  晶振负载 

 

首页 | 关于我们 | 产品展示 | 新闻资讯 | 技术支持 | 下载中心 | 在线留言 | 联系我们 | 网站地图
      版权所有:深圳市松季电子有限公司   邮箱:wu@songjicn.com    粤ICP备10098836号